-. Vision을 이용한 L,a,b 색차 지수 측정

-. Multi ROI를 통한 각 영역에 대한 색차 축출

-. 자체 개발 Algorithm을 통한 색차 측정 SW 제공

-. 4Ch - IR 4wire Probe Fxiture Module

-. Keysight 호환용

-. Peek and Gore Cable 적용

-. MLCC / Inductor Chip 단위 측정 평가  대응 모델 

-. 고객 요청 사양 등에 따른 전용 Design 

-. Insulation / Encapsulation 구조 설계

-. 절연을 위한 구조 설계

-. TEMP OPERATION : 0 ~ 250도(Peak) / 125도(Continuous)

-. 고객 맞춤형 최적 설계 제작 제공.

-.Line Scan 방식 Profile 계측 및 Rendering 기능.

-. 피 검사체에 대한  높이 변화를  직관적으로 확인 및 판단 할 수 있음.